Главная > Главные новости > Фторид лития запечатлевает образ рентгеновского излучения

Фторид лития запечатлевает образ рентгеновского излучения


22 декабря 2015. Разместил: mediapuls
22.12.2015 - 14:03
Фторид лития запечатлевает образ рентгеновского излучения

Международная группа ученых при участии ведущего научного сотрудника Института ядерной физики имени Д. В. Скобельцева (НИИЯФ) МГУ Алексея Грум-Гржимайло успешно получила трехмерный образ рентгеновского излучения посредством облучения кристалла фторида лития.
В работе также принимали участие специалисты из университета Осака (Япония), Института фотонных наук Кансаи (Япония), Института физико-химических исследований (RIKEN Spring-8 Center). Об исследовании рассказывает вебсайт НИИЯФ МГУ.
Фторид лития (LiF) — достаточно распространенный щелочной галогенид. В новом исследовании ученые решили проверить возможность его использования в качестве оптической «памяти» для получения трехмерного изображения сфокусированного пучка жесткого рентгеновского излучения.
Исследователи установили, что кристаллы этого вещества могут «запоминать» границы рентгеновских лучей, проходящих сквозь них, изменяя плотность распределения центров окраски.
Благодаря особым физическим свойствам фторида лития — высокой светочувствительности, широкому динамическому диапазону и микронному пространственному разрешению — ученым удалось измерить интенсивность распределения пучка рентгеновских лучей на большом фокусном расстоянии.
Кроме того, они смогли оценить свойства луча одной из мощнейших установок рентгеновского лазера на свободных электронах (РЛСЭ) в мире.
Результаты исследования показали, что такие качества фторида лития, как высокое разрешение, динамический диапазон, высокий порог рентгеновского повреждения и при этом нечувствительность к видимому свету делают его замечательной основой для получения трехмерных образов когерентных и некогерентных источников жестких рентгеновских лучей.
Открытие представляет как фундаментальный, так и прикладной интерес в сфере лазерной и атомной физики, физики высоких плотностей энергии и рентгеновской оптики. Выводы могут быть, например, использованы для диагностики и совершенствования различных фокусирующих систем, разработанных для РЛСЭ и синхротронов.

Источник
Вернуться назад